為研究院科研生產(chǎn)提供優(yōu)質(zhì)的測試服務，是分析測試中心全體人員的初心和使命。為進一步提升分析測試中心服務能力和水平，中心購進掃描電鏡（SEM）、X射線粉末衍射儀（XRD）、X光電能譜儀（XPS）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）四臺大型精密分析儀器。

    目前這四臺大型精密分析儀器正在安裝調(diào)試，即將全部投入使用，以下是儀器簡介，歡迎研究院同事來分析測試中心測試并提供寶貴意見和建議！

    1.X射線光電子能譜（XPS）

    儀器設備：X射線光電子能譜（XPS），日本/ULVAC-PHI,Inc，型號PHI5000 VersaProbe IV。

    應用范圍：儀器能實現(xiàn)材料表面幾個原子層（1-10納米厚的表面）的化學組成、價態(tài)，深度剖析及成像等綜合分析與表征技術的研究，被廣泛應用于分析無機化合物、合金、有機高分子化合物、能源電池材料、催化材料等，表征表面成分，表面缺陷（腐蝕，異物，污染，分布不均等），表面多層薄膜等，對于各種材料開發(fā)，材料剖析與失效機理的分析和研究具有不可替代的作用。

    功能配置：UPS（紫外光電子能譜）、荷電中和系統(tǒng)、氬團簇離子槍，XPS成像、全自動五軸樣品臺、冷熱樣品臺。

    2.X射線衍射儀（XRD）

    儀器設備：X射線衍射儀（XRD），德國Bruker，型號D8 ADVANCE。

    應用范圍：廣泛應用于物理、化學、藥物學、冶金學、高分子材料、生命科學及材料科學。可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導體材料、超導材料、納米材料、超晶格材料和磁性材料的物相檢索、物相定量分析、晶粒尺寸分析、結構精修、從頭結構解析、無標樣定量分析。材料可以是單晶體、多晶體、纖維、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。

    功能配置：原位電池附件（XRD-BAT），中低溫樣品臺（TTK600）。

    儀器設備：場發(fā)射掃描電鏡（SEM），日本電子株式會社，型號JSM-IT800。

    應用范圍：主要用于非均相有機材料、無機材料的微觀形貌的高分辨觀察，微區(qū)成分分析，廣泛用于生物學、醫(yī)學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。

    功能配置：能譜儀系統(tǒng)：牛津，型號為 UltimMax 65。

    4.電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）

    儀器設備：電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS），安捷倫，型號7900。

    應用范圍：主要進行各種樣品的痕量元素的檢測，包括元素分析、同位素分析和元素形態(tài)分析，在核工業(yè)、地質(zhì)學、醫(yī)藥及生理分析、法醫(yī)鑒定、環(huán)境監(jiān)測、半導體行業(yè)、生產(chǎn)過程質(zhì)量控制領域廣泛應用。

    功能配置：碰撞模式、反應模式、有機體系、無機體系、氫氟酸體系。